日本spectraUSB簡易膜厚測量裝置HandyLambdaⅡThickness/S

日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness / S

由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據光的光譜信息計算薄膜厚度，因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現性的測量方法而備受關注。
由于樣品是用光纖照射的，因此可以從任何位置在線使用。
當與致動器結合使用時，也可以進行簡單的映射膜厚度測量。

可測量樣品

• 影片

• 硅、氮化硅、氧化硅

• 粘合劑、涂料

• 染料膜、油膜、彩色濾膜

• 空氣層

• 光刻 膠

• 二氧化鈦

• 介電膜、金屬氧化膜

• 紫外光固化樹脂

• 砷化鎵

• 光盤、中藥、光盤

• 聚合體

不可測量的樣品

• 涂膜

• 金屬膜

各型號的產品規格