配合不同探測器的選擇,使Sigma 廣泛地適用于您的應用:無論是正在開發的新材料、用于質量檢查的顆粒還是生物或地質標本,該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下,利用可變壓力(VP)成像,借助NanoVPlite,即使在低電壓下,也能在非導體上獲得的圖像和分析結果。
掃描電鏡圖像的形成需要各個系統相互配合,電子光學系統為掃描電鏡提供的電子束,信號探測系統將電子束與樣品相互作用產生的信號進行采集與處理。電子光學系統內容請參考往期文章,本篇主要對掃描電鏡的信號探測系統進行介紹。
特點
使用多視角成像功能查找樣品在成像物鏡中的佳位置
在進行樣品信息的后期處理前,從不同視角采集信息對整個樣品成像
通過重組不同視角的信息來提高圖像的分辨率,然后使用特殊的去卷積算法進一步提高圖像質量