湖北卡爾蔡司掃描顯微鏡代理商

由于高濃度的瓊脂糖濃度會影響部分活體樣本的發育和狀態，瓊脂糖濃度太低又會影響樣品的穩定性，此時，我們可以選擇將樣品圍封在FEP管中。
適合樣品：折射率和FEP、瓊脂糖相似的樣品，如斑馬魚、果蠅、線蟲、擬南介等。
樣品大?。浩脚_配有不同規格的FEP管，具體圍封方式類似于包埋方式。
圍封樣品模式圖

掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號是基本也是常見的兩種信號類型。
不同廠家和型號的電鏡在采集SE，BSE信號時所用的探測器都具有各自特的技術，但旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器在架構和工作原理方面相對固定，應用也很廣泛，因此本文只會對旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器進行介紹。

蔡司熱場發射掃描電子顯微鏡SIGMA 500采用Gemini電子束非交叉光路設計，突破了傳統設計中電子束交叉三次造成能量擴散的限制。束流適中，大大降低了色差對成像質量的影響。鏡頭鏡筒內置電子束加速器，無需切換減速模式即可實現的低電壓成像。低20V可成像，樣品類型不受限制。透鏡鏡筒物鏡采用靜電透鏡和電磁透鏡相結合的方式，在工作距離范圍內沒有磁場，可在高倍率下觀察磁性材料。環形二次電子探測器In-Lens安裝在鏡筒的正光路上。圓柱形一體化超大樣品室配備5軸全自動中心樣品臺，可容納直徑250mm的超大樣品。同一品牌的電子顯微鏡和光學顯微鏡可以組合觀察(可選)，只有一個通用的樣品架和配套的軟件是Shuttle&Find，可以充分發揮光鏡和電子鏡各自的優勢

蔡司解決方案在增材制造領域的應用范圍覆蓋粉末和材料分析，所使用的設備包括光學顯微鏡、掃描電鏡、X射線技術。
使用光學顯微鏡來測試金屬粉末的粒徑分布
使用SEM掃描電鏡對3D打印金屬粉末的球形度和實心性進行分析
使用CT對粉末顆粒的寬高比和粒徑進行分析
對于內部缺陷，蔡司的解決方案也能輕松檢測，比如微裂紋、分層、疲勞裂紋、盈利、孔隙率、粉末殘留物和氣孔等。

電子經過一系列電磁透鏡成束后，打到樣品上與樣品相互作用，會產生二次電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線等一系列信號。所以需要不同的探測器譬如二次電子探測器、X射線能譜分析儀等來區分這些信號以獲得所需要的信息。雖然X射線信號不能用于成象，但習慣上，仍然將X射線分析系統劃分到成象系統中。
有些探測器造價昂貴，比如Robinsons式背散射電子探測器，這時，可以使用二次電子探測器代替，但需要設定一個偏壓電場以篩除二次電子。

掃描電鏡除能檢測二次電子圖像以外，還能檢測背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發光等信號圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進行掃描電鏡觀察前，要對樣品作相應的處理。
對樣品的要求
1、不會被電子束分解
2、在電子束掃描下熱穩定性要好
3、能提供導電和導熱通道
4、大小與厚度要適于樣品臺的安裝
5、觀察面應該清潔，物
6、進行微區成分分析的表面應平整
7、磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響